Probe Leeb Tipe C adalah alat yang dirancang khusus untuk pengujian kekerasan pada komponen yang telah dikeraskan permukaannya, lapisan pelapis, serta material berdinding tipis atau sensitif terhadap benturan. Dengan menciptakan lekukan pengukuran yang sangat kecil, probe ini sangat ideal untuk aplikasi sensitif di mana kerusakan permukaan seminimal mungkin menjadi hal yang esensial.
Area Aplikasi
Probe Leeb Tipe C sangat cocok digunakan pada berbagai komponen seperti:
- Komponen yang dikeraskan permukaannya, termasuk roda gigi.
- Lapisan pelapis yang membutuhkan integritas permukaan tetap terjaga.
- Bagian berdinding tipis yang rawan terhadap deformasi akibat tekanan tinggi.
Dengan energi tumbukan rendah sebesar 3 Nmm dan desain ringan, alat ini ideal untuk aplikasi di mana deformasi permukaan sekecil apa pun dapat memengaruhi fungsi atau penampilan komponen.
Keunggulan dan Presisi
Probe ini dilengkapi dengan ujung tungsten carbide berdiameter 3 mm dengan kekerasan mencapai 1600 HV. Hal ini memastikan daya tahan dan presisi tinggi dalam pengukuran kekerasan pada berbagai material, baik material yang lebih lunak seperti pelapis maupun komponen yang sangat keras seperti bagian yang telah dikeraskan permukaannya.
Probe ini mampu mengukur kekerasan hingga 1000 HV, memberikan fleksibilitas dalam berbagai aplikasi. Dengan ukuran lekukan kecil yang dihasilkan, alat ini memastikan integritas permukaan tetap terjaga, yang sangat penting dalam lingkungan kerja berpresisi tinggi.
Kemampuan Adaptasi pada Kondisi Pengujian
Probe Leeb Tipe C dapat digunakan pada sampel dengan berbagai bobot dan ketebalan, antara lain:
Bobot Minimum Sampel
- Tanpa penyangga: 1,5 kg (3,3 lbs).
- Dengan penyangga: 0,5 kg (1,1 lbs).
- Terkopel pada pelat: 0,02 kg (0,045 lbs).
Ketebalan Minimum Sampel
- Tanpa kopling: 15 mm (0,59 inci).
- Dengan kopling: 1 mm (0,04 inci).
- Ketebalan lapisan permukaan: 0,8 mm (0,03 inci).
Kemampuan ini menjadikan probe ini sangat serbaguna untuk berbagai kondisi pengujian, baik di laboratorium maupun di lapangan.
Ukuran Lekukan Minimal untuk Permukaan Sensitif
Probe ini menghasilkan ukuran lekukan minimal pada permukaan uji, sehingga cocok untuk aplikasi sensitif. Contoh ukuran lekukan pada permukaan uji:
- Dengan kekerasan 300 HV, 30 HRC: diameter 0,38 mm, kedalaman 12 μm.
- Dengan kekerasan 600 HV, 55 HRC: diameter 0,32 mm, kedalaman 8 μm.
- Dengan kekerasan 800 HV, 63 HRC: diameter 0,30 mm, kedalaman 7 μm.
Kalibrasi dan Opsi Tambahan
Untuk menjaga akurasi pengujian, pengguna dapat memanfaatkan berbagai opsi kalibrasi dan tambahan berikut:
Blok Uji Kekerasan
- Rockwell HRC: Pilihan 1 pcs atau set 3 pcs.
- Brinell HB: Pilihan 1 pcs atau set 3 pcs.
- Vickers HV: Pilihan 1 pcs atau set 3 pcs.
- Leeb Hardness Test Block HLD: Untuk pengujian yang fleksibel.
Blok uji ini dirancang untuk memastikan alat selalu memberikan hasil pengukuran yang sesuai dengan standar internasional, bahkan setelah digunakan dalam jangka panjang.
Aksesori Tambahan
Probe ini juga dilengkapi dengan berbagai aksesori tambahan, termasuk:
- Set cincin penyangga untuk probe Leeb.
- Cincin penyangga cadangan.
- Badan tumbukan cadangan.
- Kabel cadangan untuk probe.
Aksesori ini dirancang untuk meningkatkan fungsionalitas dan memperpanjang masa pakai perangkat.
Keunggulan Utama Probe Leeb Tipe C
- Presisi Tinggi: Kemampuan menghasilkan pengukuran yang akurat pada berbagai material.
- Kehalusan: Lekukan pengujian minimal yang menjaga integritas permukaan.
- Fleksibilitas: Dapat digunakan pada berbagai kondisi dan material pengujian.
- Pelestarian Permukaan: Cocok untuk aplikasi yang memerlukan perlindungan permukaan maksimal.
Standar yang Didukung
Probe Leeb Tipe C memenuhi standar ASTM A956, yang memastikan alat ini mematuhi regulasi internasional dalam pengujian kekerasan. Ini memberikan kepercayaan kepada pengguna bahwa hasil pengujian adalah akurat dan dapat diandalkan.
Lingkungan Operasi
Probe ini dirancang untuk bekerja pada kondisi lingkungan berikut:
- Suhu: -20°C hingga 50°C.
- Kelembaban: 30% hingga 80% RH.
Desain yang tahan terhadap variasi lingkungan memastikan bahwa alat ini dapat digunakan di berbagai lokasi, termasuk di lingkungan industri yang menantang.
Paket Standar
Setiap pembelian Probe Leeb Tipe C dilengkapi dengan paket standar berikut:
- Probe tipe Leeb C.
- Cincin penyangga cadangan.
- Sikat nilon untuk pembersihan probe.
- Sertifikat uji.
- Kemasan pelindung.
Paket ini memastikan pengguna mendapatkan semua yang dibutuhkan untuk memulai pengujian dengan mudah dan efisien.
Kesimpulan
Probe Leeb Dinamis Tipe Leeb-C dari Novotest adalah solusi yang ideal untuk pengujian kekerasan pada berbagai komponen sensitif. Dengan desain presisi tinggi, fleksibilitas luar biasa, dan dukungan terhadap standar internasional, alat ini menjadi pilihan utama bagi para profesional di bidang pengujian kekerasan. Baik untuk aplikasi laboratorium maupun lapangan, Probe Leeb Tipe C menawarkan hasil pengujian yang akurat dan andal, sekaligus menjaga integritas permukaan material yang diuji.
Beli Probe Leeb Dinamis tipe Leeb-C Hardness Tester Novotest di penguji.com untuk dapatkan support teknis di Indonesia. Langkah awal untuk bersama visi kami
” Bersama Pengguna untuk pengguna”.
Reviews
There are no reviews yet.